【产品名称】:扫描测头
【产品规格】:扫描测头
【详细内容】
雷尼绍提供各种类型的测头系统,以更好地满足具体的应用需求。

扫描测头
扫描测头是微型测量仪器,每秒能够采集几百个表面点,可以测量形状、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点,与触发式测头类似。

雷尼绍提供了一系列解决方案,供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。

触发式测量系统
触发式测头测量离散的点,是检测三维几何工件的理想选择。

雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统,既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测,也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。

扫描测头系统

SP25M SP600 SP80
具有扫描和触发式模块的25 mm直径扫描测头 高性能检测、数字化和轮廓扫描 轴套式安装扫描测头,选用长测针仍能保持最佳的

扫描原理
扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点,而扫描系统则可获取大量的表面数据,提供更详细的工件形状信息。因此,在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测,扫描测量可谓理想之选。

扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。

雷尼绍扫描测头独具特色的轻巧无电源机构(无马达或锁定机构),具有高固有频率,适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接(无需通过测头机构中的叠加轴)测量测针的偏移量,以获得更高的精度和更快的动态响应。

扫描系统如何采集并分析表面数据?
扫描测头提供连续的偏移量输出,与机器位置相结合,从而获得表面位置数据。进行扫描测量时,测头测尖开始与工件接触,然后沿工件表面移动,采集测量数据。在整个测量过程中,须将测头测针的偏移量保持在测头的测量范围内。

要想取得最佳测量结果,需要传感器与机器控制紧密集成,以及先进的滤波运算,以将合成数据转换为可用的表面信息。扫描驱动算法适用于工件轮廓测量,改变扫描速度使之匹配曲率的变化(表面越平,速度越快),然后调整数据采集速率(表面变化越快,采集的数据越多)。